“Kvant elektronikasi va lazer texnologiyalari” laboratoriyasi

-Xalьkogenid plyonkalariga gologrammalarni yozib olish va o‘chirish usullari ishlab chiqildi, xalьkogenidli shishasimon yarimo‘tkazgichlar – As-Se va As-S sistemalarida gologrammalarni yozib olishning reversivligi o‘rganildi;
-As-Se va As-S plyonkalarini He-Ne lazeri bilan nurlantirishdan oldingi va keyingi spektrlarida optik yutilish chegarasining katta to‘lqin uzunligi tomon siljishi aniqlandi;
-Gologrammaning difraksiya samaradorligining kompozitsion bog‘liqligi va AsxS1-x va AsxS1-x sistemalarining optik yutilish chegarasi λ siljishi mishyak miqdori 65at.% bo‘lgan plyonkalar uchun maksimalga ega ekanligi ko‘rsatilgan;
-As-Se va As-S plyonkalari optik va gologramma parametrlarining dastlabki materiallar termik ishlov berishiga bog‘liqligi aniqlanadi. Barcha namunalarning strukturaga sezgir parametrlari dastlabki namunalarga termik ishlov berish haroratiga kuchli bogliq bo‘lib, T≈490°C haroratda cho‘qqiga ega bo‘lishi aniqlandi. Boshlang‘ich materialning termik ishlov berishdagi o‘zgarish bilan difraksiya samaradorligi ikki baravardan ko‘proq o‘zgarishi ko‘rsatilgan;
-Shisha tagliklardagi As-Se va As-S plyonkalarining optik va gologramma xarakteristikasiga γ-nurlanishning ta’siri aniqlandi. 103÷109 R doza oralig‘ida optik xossalari va qayd etilgan gologrammalarning difraksion samaradorliklari amalda o‘zgarmasligi aniqlandi. 103÷109 R doza oralig‘ida gologrammalarning optik xossalari va difraksiya samaradorligi deyarli o‘zgarmasligi aniqlandi;
- As-Se, As-S tizimlarida gologramma yozishning difraksiya samaradorligi, reversivligi va saqlanuvchanligini o‘rganish natijalariga ko‘ra, ushbu materiallar optik ishlov berishni yozish va axborotni saqlash uchun golografik saqlovchi qurilma (GSQ)larning optik tizimlarida foydalanish uchun istiqbolli ekanligi aniqlandi. Qayd etilgan gologrammalarning saqlash muddati ma’lum sharoitlarda 15 yil yoki undan ko‘p bo‘lishi mumkinligi aniqlandi;
- Turli konsentratsiyadagi temir ionlari bilan legirlangan niobat litiy kristallarining maksimal difraksion samaradorligi λ=630 nm to‘lqin uzunligi uchun η=31%, λ=440 nm to‘lqin uzunligi uchun esa η=34% ekanligi hamda fotosergirlikning 3-7 marta ortganligi aniqlandi;
-LiNbO3 va LiNbO3:Fe kristallarining fotorefraktiv sezgirligi kirishma atomlari konsentratsiyasi va nurlanish dozasiga bog‘liqligi hamda γ-nurlanish dozasi 104÷107 R oraliqda kristallarning fotorefraktiv sezgirligi deyarli 10 marta ortganligini va ta’qiqlangan soha kengligi 3.04 dan 3.39 eV gacha o‘zgarishi aniqlandi;
- LiNbO3 va LiNbO3:Fe kristallaridan γ-nurlanish dozalarining ma’lum oralig‘ida optik jihatdan yuqori sezgirlikni ta’minlovchi, axborotlarni qayd etish va saqlash uchun qulay xotira elementi sifatida foydalanish mumkin ekanligi aniqlandi;
- Ilk bor γ-nurlari bilan nurlantirilgan niobat litiy kristalini kombinatsion sochilish usuli bilan tadqiq qilinganda 1300÷1600 sm-1 oraliqda maksimal intensivligi 1375 sm-1 chastotaga to‘g‘ri keluvchi maksimal nuqtasi aniqlandi;
- Sof va temir ionlari bilan legirlangan niobat litiy tagliklarida o‘stirilgan ZnO nanorodlarini sirt morfologiyasi boshqa usullarda (lazerli abilyatsiya, ion implantatsiya va boshqalar) olingan strukturalar bilan bir xilda ekanligi, tarkibiy tahlilda esa past xaroratda gidrotermal usulda o‘stirilgan rux oksid nanorodlarning tarkibida kislorod miqdorining boshqa usullarga nisbatan 2 marta kam ekanligi aniqlandi;
- ZnO-LiNbO3 va ZnO-LiNbO3:Fe strukturalarning fotolyuminessensiya spektri tahlil qilinganda UB sohada ZnO-LiNbO3 strukturaning intensivligi 12% ga ko‘p eknligi, yutilish spektrlarida esa ZnO-LiNbO3:Fe strukturaning ZnO qatlam tomonining spektr chiziqlari taglik spektr chiziqlaridan yuqorida joylashganligi aniqlandi.

1. З.Т. Азаматов, Хусаинов И.А., Ким В.В., Акбарова Н.А. «Устройство для дистанционного обнаружения дефектов» патент FAP № 01411 приоритет от 26.06.2018, регистрация 31.07.2019.
2. З.Т.Азаматов, В.Е.Гапонов, А.А.Жеенбеков Методы и средства цифровой голографической интерферометрии для неразрушающего контроля и технической диагностики. Монография, Фан ва технологиялар нашриёти, 2023, 312 б.
3. З.Т. Азаматов, Ш.Б. Утамурадова, Н.Н. Базарбоев, Т.З. Азаматов, М.Р. Бекчанова, А.Б. Бахромов. Голографическая свойства халькогенидных стеклообразных полупроводниковых пленок //Прикладная физика, 2022, №2, стр. 39-45. (Scopus)
4. Z.T.Azamatov, Sh.B.Utamuradova, N.N.Bazabayev, M.A.Yuldoshev. Some properties of semiconductor-ferroelectric structures // East European Journal of Physics. 2023, №2, pp.187-190. (Scopus).
5. Sh.B.Utamuradova, Z.T.Azamatov, M.A.Yuldoshev N.N.Bazabayev, A.B. Bahromov. Investigations of nonlinear optical properties of lithium niobate crystals // East European Journal of Physics. 2023, №4, pp.147-152. (Scopus).
6. Ш.Б.Утамурадова, З.Т.Азаматов, В.Е.Гапонов, А.А.Жеенбеков, Н.Н.Базарбаев, А.Б.Бахромов // Применение цифровой ширографии для обнаружения дефектов в материалах, Прикладная физика Научно-технический журнал, 2023, № 4, Москва, стр.115-120 (Scopus).
7. I.Japakov, M.E.Vapaey, R.M.Bedilov, Z.T.Azamatov, I.Y.Davletov. Spectra of multiply charged ions in laser plasma formed from gas-containing targets // East European Journal of Physics. 2023, №3, pp.490-494. (№3 (Scopus) IF:0.8).
8. N. Akbarova, Z. Azamatov. Deformation measurement by digital holographic interferometry // E3S Web of Conferences 434, 01039 (2023) (Scopus конференция).
9. З.Т. Азаматов, Т.З. Азаматов, М.Р. Бекчанова. Влияния γ -облучения на голографические характеристики халькогенидных стеклообразных полупроводниковых (ХСП) пленок//Физика полупроводников и микроэлектроника, 2019, том 1, вып.2, стр. 65-69.
10. З.Т. Азаматов, Н.Н. Базарбаев, М.Р. Бекчанова. Исследование оптических и голографических свойств пленок систем AsхSe1-x // ДАН РУз, 2022, №6, стр. 10-15.
11. Z.T. Azamatov, N.N. Bazarboyev, M.R. Bekchanova. Investigation of the holographic characteristics of chalcogenide glassy As-Se semiconductor films // European Science Review. 2022, №9-10, pp.35-38.
12. З.Т. Азаматов, И.А. Кулагин, К.П. Абдурахманов, Н.А. Акбарова, М.Р. Бекчанова. Лазерная интроскопия кремниевых пластин // Физика полупроводников и микроэлектроника, 2019, том 1, вып.1, стр.54-57.
13. Z.T. Azamatov, N.N. Bazarbaev, М. R. Bekchanova, M.A. Yoldoshev. Digital holographic interferometry in physical measurement // Semiconductor Physics and microelectronics. 2019, Vol. 1, Issue 5, рр.151-160. 14. З.Т.Азаматов, Н.Н.Базарбаев, М.А.Йўлдошев. Исследование влияния γ-облучения на оптические свойства ниобата лития методами оптического поглощения и Рамановского рассеяния // Сибирский физический журнал. 2022, Том 17, №4, стр.95-102.
15. Sh.B.Utamuradova, Z.T.Azamatov, S.A.Muzafarova, M.A.Yuldoshev. Yarimo’tkazgich - segnetoelektrik strukturalarning elektrooptik xossalarini tadqiq qilish // Talqin va tadqiqotlar. 2023, №27, 20-28 b.

Asosiy ilmiy-tadqiqot qurilmalari

Golografik stend qurilma

XSP va fotorefraktiv kristallarning optik va golografik xususiyatlarini o‘rganuvchi qurilma

Shirograf maketi

Materiallar va obyektlarni masofadan turib ichki va tashqi nuqsonlarini aniqlovchi qurilma

“ANEST IWATA ISP-90

Universal kamerada 10-3-10-4 Pa bosim hosil qilish imkonini beradi.

Meradat VIT19IT2

Universal kameradagi bosimni doim nazorat qilib turish imkonini beradi.